<strike id="eaaa0"></strike>
<samp id="eaaa0"><tbody id="eaaa0"></tbody></samp>
  • <strike id="eaaa0"><menu id="eaaa0"></menu></strike>
    
    
    <ul id="eaaa0"></ul>
    <strike id="eaaa0"><s id="eaaa0"></s></strike>

    產品中心

    Product Center

    當前位置:首頁產品中心測試系統致茂測試系統

    • 58604致茂58604雷射二極體燒機及可靠性測試系統

      致茂58604雷射二極體燒機及可靠性測試系統 可提供燒機測試,信賴性測試與老化測試 支持自動電流控制模式(ACC)與自動功率控制模式(APC) 個別通道(Channel)驅動與量測 每個通道可供應達500mA的電流 達125℃ 的精確溫度控制 個別模組(module)獨立操作

      更新時間:2024-11-29
      產品型號:58604
      瀏覽量:1207
    • 58620致茂Chroma 58620 激光半導體特性測試機

      致茂Chroma 58620 激光半導體特性測試機 全自動化檢測邊射型激光半導體芯片 高精密及高容量載具設計 自動光纖耦合測試對位設計(Auto-alignment) AOI輔助定位,加速測試時間 共用載具設計可搭配燒機測試

      更新時間:2024-11-29
      產品型號:58620
      瀏覽量:1125
    • 7940致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統

      致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統 可同時檢測正反兩面晶圓 大可檢測6吋擴膜晶圓(檢測區域達8吋范圍 ) 可因應不同產業的晶粒更換或新增檢測項目 上片后晶圓自動對位機制

      更新時間:2024-11-29
      產品型號:7940
      瀏覽量:1417
    • 58635-L/N/FChroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統

      Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統 58635-L光電組件晶圓LIV點測系統 58635-N光電組件近場量測點測系統 58635-F光電組件遠場量測點測系統

      更新時間:2024-11-29
      產品型號:58635-L/N/F
      瀏覽量:1525
    • 54100/54130/5418054100/54130/54180致冷芯片溫度控制器

      54100/54130/54180致冷芯片溫度控制器 54100致冷芯片溫度控制器 54130-27-12致冷芯片控制器 300W 54180-40-20致冷芯片控制器 800W

      更新時間:2024-11-29
      產品型號:54100/54130/54180
      瀏覽量:1261
    共 85 條記錄,當前 10 / 17 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁